荧光X射线镀层测厚仪+rohs一体 及痕量元素分析仪

产品简介：

      x-strata980结合了大功率x射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积

的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，

能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可到ppm级，确保产品满足环保要求，

帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择Zui合适的分析模型：经验系

数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别

出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱

门使样品更易放入。

应用:

--rohs/weee

--有害元素痕量分析

--焊料合金成分分析和镀层厚度测量

--电子产品中金和钯镀层的厚度测量

--五金电镀、cvd、pvd镀层的厚度测量

--贵金属合金分析和牌号鉴定

产品特点:

--100瓦x射线管

--25mm2pin探测器

--多准直器配置

--扫描分析及元素分布成像功能

--灵活运用多种分析模型

--清晰显示样品合格/不合格

--超大样品舱

--同时分析元素含量和镀层厚度

技术参数:

--元素范围:s(16) to u(92)

--可测镀层层数:5层(4层+底材),可同时分析25种元素成份

--x射线管功率:100w (50kv and 2ma)微焦点钨靶x射线管

--探测器:25mm2 pin电制冷固态探测器

--滤波器/准直器:Zui多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格(0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ø)

--数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正

--电脑/显示器/系统软件

  celeron, 1.86 ghz,  40 gbhd, 512mb ram,相同或更高配置

  15”lcd, 1024 x 768

  microsofttm xp sp2

--摄像系统:1/2”cmos-640x480 vga resolution

--电源:85~130v or 215~265 v,频率47hz to 63hz

--工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水

--xyz轴行程:  203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)

--Zui大样品尺寸

  305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为  50mm (2”)

  305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为203mm (8”)

--舱室尺寸:   (w x d x h):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)

--外型尺寸

 高765mm (30.1”)

 宽700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended

 深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended

--重量: 135 kg

本产品的加工定制是是，品牌是牛津，型号是X-STRATA980，类型是元素分析仪器，测试范围是0.000025-0.6mm，电源电压是220（V\HZ），测量范围是0.000025-0.6mm，外形尺寸是900*750*750